Phi nano tof ii

Webbdepth is 242.5 nm as shown in Figure 1(ii) and total sputtering duration is 820 s. ToF-SIMS data acquisition To measure the secondary ion counts, the PHI nano ToF II TRIFT was used from Physical Electronics, MN, USA. In this process, a 10 ns pulsed liquid metal ion gun (LMIG) uses Gallium (Ga+) sources to produce ions as primary ion WebbEmail: [email protected] Web: www.phi.com ULVAC-PHI, Inc. Address: 370 Enzo, Chigasaki, Kanagawa, 253-8522, Japan Phone: 81-467-85-4220 Fax: 81-0467-85-4411 Email: …

PHI nanoTOF II飞行时间二次离子质谱仪-高德英特（北京）科技有 …

WebbPHI nano TOF: 仕様: 励起源（一次イオン照射系） ビスマスイオン銃 スパッタイオン銃 Arガスクラスターイオン銃（GCIB） 分析系 飛行時間型質量分析計、三重収束型静電 … Webb27 okt. 2024 · Nanofiber Frame II is a type of Upgrade Material in Tower of Fantasy. ... Nano Coating II: Nano Coating III: Nanofiber Frame I: Nanofiber Frame II: Nanofiber … impa safety campaign https://higley.org

Multi-dimensional characterizations of washing durable …

WebbPHI nanoTOF II™ SIMS 分析・計測機器 表面分析装置 nanoTOF II は、イオン透過特性に優れたトリプルフォーカス静電アナライザ（TRIFT型アナライザ）を継承しつつ、新し … WebbPHI nanoTOF II飞行时间二次离子质谱仪. tel: 400-6699-117 转 1000. 爱发科二次离子质谱/离子探针, 特点：立体收集角度大和深景深 二次离子以不同的初始能量和角度 从样品表 … http://www.labotec.co.za/wp-content/uploads/2016/08/PHI-Nano-TOF.pdf impart wrocław repertuar 2022

Beijing Institute of Technology

Category:Characterization of Streptococcus salivarius growth and …

Tags:Phi nano tof ii

Phi nano tof ii

北京理工大学飞行时间二次离子质谱仪采购中标公告_招标网

Webb飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS） 设备型号： PHI nano TOF Ⅱ. 技术参数： 1)低质量时质量分辨率：m/z = 28 (Si+)和29 (SiH+) 的m/∆m ≥ 12,000. 2)高质量时质量分辨 …

Phi nano tof ii

Did you know?

Webb17 sep. 2024 · PHI nanoTOF II 飞行时间二次离子质谱仪三次对焦飞行时间）是一种高传输、并行检测仪器，其目的是由主脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子可以得到*的 … WebbTOF-SIMS 、钙钛矿太阳 ... 深入研究，材料学院于2024年建立了先进材料实验中心，配备了飞行时间二次离子质谱仪（ TOF-SIMS，PHI Nano TOF II ）、扫描微聚焦式X射线光电 …

Webb5 nov. 2024 · Conclusions. A novel 2- (2,5-dimethoxyphenoxy)isoindoline-1,3-dione ( 3) was produced with 71% yield in the reaction between 1,4-dimethoxybenzene and N -hydroxyphthalimide under the action of manganese triacetate as the oxidant. The structure of the compound was confirmed by NMR spectroscopy, mass spectrometry, elemental … WebbTOF-SIMS具有超高表面灵敏度（~ 1 nm）和检测灵敏度（ppm-ppb级），以及极佳的质量分辨率和空间分辨率，可以检测包括H在内的所有元素和同位素，还可以提供膜层结构深度信息和三维重构（3D）信息，这些优势 ... PHI TOF-SIMS 用户成果赏析-北京理工大学先进材 …

WebbThe authors have developed a parallel imaging MS/MS capability for the PHI nanoTOF II time-of-flightsecondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) instrument. WebbNa2CO3, ZrO(NO3)2, SiO2, NH4H2PO4, ZnO, B2O3 are stoichiometrically mixed with 10% sodium excess by a high-speed agitator. The raw mixture is pre-sintered at 1000 ℃ for …

Webb1 nov. 2024 · The time-of-flight secondary ion mass spectroscopy (ToF-SIMS) depth profiles were obtained using an Ulvac-Phi PHI nano TOF II. The optical properties of the …

Webb11 mars 2024 · phi nano tof ii 是phi第六代非常成功的tof-sims產品，是基於專利的 trift 分析儀設計技術。nano tof ii 獨特的質譜儀對於痕量檢測以及對帶有紋理形貌的真實樣品 … list weight loss programsWebbTOF-SIMS（PHI TRIFT V nano ToF, ULVAC-PHI, Chigasaki）で測定した．ペプチド脂質混合試料は， 一次イオン源を19 keV Au+ とするTOF-SIMS （TRIFT III, ULVAC-PHI, … listwell realtyWebb2 aug. 2024 · PHI nano TOF II仪器对锂离子电池能源材料、钙钛矿发光材料、光伏材料和阻燃材料等研究中起到了重要的测试支持，产出了众多高水平科研成果，至今已在Science … impas cały filmWebb22 okt. 2024 · PHI Nano TOF II 是PHI第六代非常成功的TOF-SIMS产品，是基于专利的 TRIFT 分析仪设计技术。 Nano TOF II 独特的质谱仪对于痕量检测以及对带有纹理形貌的 … impas filmwebWebb8 sep. 2024 · 1.供应商投标（响应）文件：详见附件。. 2.下载打印电子中标通知书. 采购人可在中标（成交）结果公告发布之日起3日后登录交易系统自行下载打印电子中标通知书 … listwell plymouth maWebbULVAC-PHI, Japan “Precise Mass Analysis of Organic Materials by PHI Nano-TOF II Equipped with Tandem MS/MS” Dr. Hossein Sepehri-Amin: NIMS, Japan “UV Laser … impas film 2021WebbPHI nanoTOF II PHI’s patented TRIFT mass spectrometer provides superior sensitivity, low spectral background, and the unique ability to image highly topographic surfaces. The … impas daughter botw